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晶圓芯片水滴角接觸角測(cè)試儀測(cè)量?jī)x

內(nèi)容簡(jiǎn)介 水滴角測(cè)試儀,接觸角測(cè)量?jī)x,親水角測(cè)試儀,疏水角測(cè)試儀

本接觸角測(cè)量?jī)x特別訂制的圓形樣品臺(tái)專用于晶圓（Wafer）樣品的測(cè)試。通過測(cè)試液滴在晶圓樣品表面形成接觸角的大小，來檢測(cè)其表面的潔凈程度和評(píng)估表面處理的工藝效果。

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